HTRB高温反偏老化测试系统
HTRB（High Temperature Reverse Bias）高温反偏老化系统可在 200℃高温进行长期老化测试，配备2000V高压电源和自主研发的高精度数据采集卡，支持适用于各种封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET等器件，能实时监测漏电流、电压状态、支持过流、过压、短路保护(自主关断单颗器件输入)，记录数据和位置信息并导出报表。
技术参数| 序号 | 项目 | 参数 | 参数 |
| 1 | 机台型号 | KL-HTRB30 | KL-HTRB50 |
| 2 | 老化温度区间 | 45℃ ~200C° | 45℃ ~ 200C° |
| 3 | 测试温区 | 64 | 128 |
| 4 | 老化测试插槽 | 64 | 128 |
| 5 | 上下料方式 | Tray盘 | Tray盘 |
| 6 | 单Tray产品数 | 60 | 60 |
| 7 | 设备产能 | 3840 | 7680 |
| 8 | 温度均匀性 | <±2℃ | <±2℃ |
| 9 | 温度稳定性 | <±0.5℃ | <±0.5℃ |
| 10 | 升降温时间 | Room~150℃ ≥5℃/min 150℃~200℃ ≥3℃/min | Room~150℃ ≥5℃/min 150℃~200℃ ≥3℃/min |
| 11 | 高压电源驱动 | 2000V | 2000V |
| 12 | 高压上下电时间 | 步进/时间可设 | 步进/时间可设 |
| 13 | 高压电源通道 | 4 | 8 |
| 14 | 电压输出范围 | 100V~2000V | 100V~2000V |
| 15 | 电压输出精度 | 0.5% ± 0.01V | 0.5% ± 0.01V |
| 16 | 电流采样范围 | 0~100uA / 100uA~5mA | 0~100uA / 100uA~5mA |
| 17 | 电流采样精度 | 0.1% ± 5nA | 0.1% ± 0.05uA |
| 18 | 电源保护 | OCP,OVP(断开单颗器件输入) | OCP,OVP(断开单颗器件输入) |
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