EN
CN
EN
联系电话：
18961629250
首页
+
关于我们
公司简介
专利资质认证
员工风采
发展历程
+
产品中心
半导体芯片可靠性测试设备
MEMS标定(量产、工程验证）
可靠性环境模拟试验设备
+
解决方案
半导体行业
汽车零部件行业
家电行业
新能源行业
信息通讯
第三方实验室整体筹建
+
实验室
环境与可靠性测试
失效分析
培训与技术服务
第三方实验室整体筹建
+
新闻动态
公司新闻
行业新闻
+
技术服务
售后服务
资料下载
其他服务
+
联系我们
联系方式
人才招聘
语言版本：
中文版
English
半导体芯片
可靠性测试设备
HTRB高温反偏老化测试系统
HTOL集成电路高温动态老化测试系统
LTOL集成电路低温动态老化测试系统
PCT-3000模块老化测试系统
PCBA高温带载老化设备
MEMS标定
(量产、工程验证）
温度标定测试系统
气压标定测试系统
可靠性环境
模拟试验设备
高低温交变湿热试验箱
快速温变试验箱
两箱冷热冲击试验箱
三箱冷热冲击试验箱
芯片气体冲击（热流仪）
高低温试验一体机
桌上型高低温湿热试验箱
HAST偏压加速老化测试系统
400℃高温加速老化试验箱
接触式高低温设备、高低温控温卡盘
热真空试验箱
大型老化房
技术服务
为客户提供优质可靠的产品和服务
技术服务
售后服务
资料下载
其他服务
返回
实验室组建
点击预约
设备的安装与调试
点击预约
技术培训
点击预约
实验室组建
立即预约
设备的安装与调试
添加更多
测试对象*
IOL间歇寿命老化测试系统
IGBT/SIC模块功率循环老化测试系统
HTRB高温反偏老化测试系统
HTGB高温栅反偏老化测试系统
IGBT模块高温反偏老化测试系统
H3TRB高温高湿反偏老化测试系统
HAST高加速寿命偏压老化测试系统
CAF测试系统
芯片气体冲击（热流仪）
高精密导通电阻测试系统
HTOL集成电路高温动态老化测试系统
制冷加热控温系统
高低温交变湿热试验箱
三箱冷热冲击试验箱
两箱冷热冲击试验箱
超快速冷热冲击试验机
工业低温箱
精密冷水机
低温恒温冷水试验系统
快速温变试验箱
步入式试验室
高低温低气压试验箱
新能源电池高低温试验箱
日标综合淋雨试验箱
步入式盐雾试验室
二氧化硫盐雾试验箱
臭氧老化试验箱
砂尘试验箱
氙灯耐气候试验箱
低温恒温槽
立即预约
技术培训
行业应用*
半导体行业
汽车零部件行业
家电行业
新能源行业
信息通讯
*是否购买过卡伦产品：
立即预约
电话
18961629250
邮箱
xielinhua@wxklck.com
二维码
二维码
TOP
实验室组建
设备的安装与调试 
技术培训 