HAST偏压加速老化测试系统
HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
技术参数| 产品型号 | KL-HAST-380 | KL-HAST-380*2 | |
| 产品名称 | 高加速寿命偏压老化测试系统 | ||
| 高温试验箱 | 自制 | ||
| 内箱尺寸 | 有效尺寸不小于 340XD475mm*2层 | 有效尺寸不小于 340XD475mm*2层 | |
| 驱动检测板 | 4块（1块驱动板可以带2块老化板） | 8块（1块驱动板可以带2块老化板） | |
| vds电源 | 1台 | 2台 | |
| Vgs电源 | 正、负电源各1台 | 正、负电源各2台 | |
| 二级Vgs电源 | 40路/板 | 40路/板 | |
| 试验容量 | 120颗(可以按要求定制工位) | 240颗(可以按要求定制工位) | |
| 老化试验板 | 专用耐高温基板,耐高温老化座,接口镀金处理。 | ||
| 上位机 | 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标 | ||
| 基本功能 | ·试验参数（Vds、Vgs、Ta、RH）设定 ·试验参数（Vds/Id、Vgs/Ig、Ta、RH）上限设定 ·实时监测显示老化参数（Vds/Id、Vgs/Ig、Ta、RH）及老化时间、老化进度 ·实时记录保存老化参数（Vds/Id、Vgs/Ig、Ta、RH） ·实时判断漏电流量是否超限,超限报警切断该回路的试验电压 ·老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制漏电流变化曲线 | ||
| 联网功能 | 可实现电脑端网络监控或者手机端APP监控。 | ||
| 电网要求 | 三相AC380V，8KW | 三相AC380V，6KW | |
| 外形尺寸 | HAST箱子:WXDXH:71X95X195(cm) 控制柜:WXDXH:60X105X170(cm) | HAST箱子:WXDXH:71X95X195(cm) 控制柜:WXDXH:60X105X170(cm) | |
| 重量 | 约400kg | 约500kg | |
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