400℃高温加速老化试验箱

KL-E400高温老化系统老化温度支持45~400℃，具有温度控制精度高，温度均匀性高，温度稳定性高，升降温速度快等特点，系统支持定制扩展，可搭配测试硬件进行芯片高温电性试验与评估。

产品特点
符合标准
适用范围

系统配置三色灯报警功能，实时显示设备运行状态
系统配备6个高温温区，每个温区可独立运行
系统温腔体采用特殊风道设计，腔体内各区域受热均匀
上位机软件支持图形化展示每块腔体的工作状态
上位机软件支持温度判和超温保护功能，实时显示各个腔体的温度数据
上位机软件支持选择每个腔体的温度曲线进行在线画图
支持温控程序的在线编辑，配置温度循环时长、温度条件设置、数据采样间隔等
数据支持保存在客户服务器或数据库
可支持上位机软件定制开发和系统接入
系统采用模块化设计，可根据客户后续使用需求进行功能扩展和升级服务

技术参数

技术指标
序号	项目	规格
1	设备名称及型号	KL-E400高温老化系统
2	内箱尺寸(W×D×H)	270280160 (宽×深×高mm)
3	外箱尺寸(W×D×H)	14808752080 (宽×深×高mm)
4	测试腔体	6个
5	温度范围	45~400℃
6	温度波动度	≤±0.5℃
7	温度偏差	≤±1.0℃
8	温度均匀度	Temperature≤100℃ / ≤±1℃ Temperature≤200℃ / ≤±2℃ Temperature≤300℃ / ≤±3.5℃
9	升温时间	升温时间≥5℃/min
10	降温时间	升温时间≥5℃/min

相关产品

产品单页下载

电话

18961629250

邮箱

xielinhua@wxklck.com

二维码

二维码