HTOL集成电路高温动态老化测试系统
HTOL（High Temperature Operating Life）测试作为评估集成电路可靠性的关键环节，模拟芯片在高温、高压下的长期运行状态，以此精准评估芯片寿命、可靠性与稳定性。本系统专为各类封装形式的大、中、小规模集成电路量身打造，广泛适用于微处理器、逻辑电路等多种器件的工作寿命试验与高温动态老炼筛选。
技术参数| 序号 | 项目 | 参数 | 参数 |
| 1 | 机台型号 | KL-HT1600 | KL-HT3200 |
| 2 | 老化温度区间 | RoomT+20℃ ~ 150C° | RoomT+20℃ ~ 150C° |
| 3 | 测试温区 | 1 | 2 |
| 4 | 老化测试插槽 | 16 | 32 |
| 5 | 支持BIB尺寸 | 570*450(mm) | 570*450(mm) |
| 6 | 单块老化板产品数 | (根据产品尺寸和Socket尺寸评估) | (根据产品尺寸和Socket尺寸评估) |
| 7 | 设备产能 | 1600pcs(按板100Dut核算) | 3200pcs(按板100Dut核算) |
| 8 | 温度均匀性 | <±2℃(空载) / <±5℃(满载) | <±2℃(空载) / <±5℃(满载) |
| 9 | 升降温时间 | ≥3℃/min | ≥3℃/min |
| 9 | 电源驱动(单板8Channel) | DPS1 0.5V-6V/25A,75W | DPS1 0.5V-6V/25A,75W |
| DPS2 0.5V-6V/25A,75W | DPS2 0.5V-6V/25A,75W | ||
| DPS3 0.5V-10V/10A,30W | DPS3 0.5V-10V/10A,30W | ||
| DPS4 0.5V-10V/10A,30W | DPS4 0.5V-10V/10A,30W | ||
| DPS5 0.5V-6V/20A,60W | DPS5 0.5V-6V/20A,60W | ||
| DPS6 0.5V-6V/20A,60W | DPS6 0.5V-6V/20A,60W | ||
| DPS7 0.5V-6V/10A,30W | DPS7 0.5V-6V/10A,30W | ||
| DPS8 0.5V-6V/10A,30W | DPS8 0.5V-6V/10A,30W | ||
| 10 | 电源设置精度 | 0.5% ± 0.05V | 0.5% ± 0.05V |
| 11 | 电源采样精度 | 0.5% ± 0.05V | 0.5% ± 0.05V |
| 12 | 电流采样精度 | 0.5% ± 0.1A | 0.5% ± 0.1A |
| 13 | 电源远端采样控制 | 支持 | 支持 |
| 14 | 电源保护 | OCP,OVP | OCP,OVP |
| 15 | IO通道 | 184 | 184 |
| 16 | IO功能 | 全双向 | 全双向 |
| 17 | IO频率 | 10MHz | 10MHz |
| 18 | IO驱动电流 | 100mA | 100mA |
| 19 | IO VIH | 0.5-5V | 0.5-5V |
| 20 | IO VIL | 0V | 0V |
| 21 | 向量zone | 每块BIB 独立zone | 每块BIB 独立zone |
| 22 | 向量格式 | WGL，VEC，PAT等常规格式 | WGL，VEC，PAT等常规格式 |
| 23 | 向量深度 | 32M | 32M |
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