HTOL集成电路高温动态老化测试系统
HTOL（High Temperature Operating Life）HTOL集成电路高温动态老化测试系统作为评估集成电路可靠性的关键环节，模拟芯片在高温、高压下的长期运行状态，以此精准评估芯片寿命、可靠性与稳定性。本系统专为各类封装形式的大、中、小规模集成电路量身打造，广泛适用于微处理器、逻辑电路等多种器件的工作寿命试验与高温动态老炼筛选。
技术参数| 序号 | 项目 | 参数 | 参数 |
| 1 | 机台型号 | KL-HT1600 | KL-HT3200 |
| 2 | 老化温度区间 | RoomT+20℃ ~ 150C° | RoomT+20℃ ~ 150C° |
| 3 | 测试温区 | 1 | 2 |
| 4 | 老化测试插槽 | 16 | 32 |
| 5 | 支持BIB尺寸 | 570*450(mm) | 570*450(mm) |
| 6 | 单块老化板产品数 | (根据产品尺寸和Socket尺寸评估) | (根据产品尺寸和Socket尺寸评估) |
| 7 | 设备产能 | 1600pcs(按板100Dut核算) | 3200pcs(按板100Dut核算) |
| 8 | 温度均匀性 | <±2℃(空载) / <±5℃(满载) | <±2℃(空载) / <±5℃(满载) |
| 9 | 升降温时间 | ≥3℃/min | ≥3℃/min |
| 9 | 电源驱动(单板8Channel) | DPS1 0.5V-6V/25A,75W | DPS1 0.5V-6V/25A,75W |
| DPS2 0.5V-6V/25A,75W | DPS2 0.5V-6V/25A,75W | ||
| DPS3 0.5V-10V/10A,30W | DPS3 0.5V-10V/10A,30W | ||
| DPS4 0.5V-10V/10A,30W | DPS4 0.5V-10V/10A,30W | ||
| DPS5 0.5V-6V/20A,60W | DPS5 0.5V-6V/20A,60W | ||
| DPS6 0.5V-6V/20A,60W | DPS6 0.5V-6V/20A,60W | ||
| DPS7 0.5V-6V/10A,30W | DPS7 0.5V-6V/10A,30W | ||
| DPS8 0.5V-6V/10A,30W | DPS8 0.5V-6V/10A,30W | ||
| 10 | 电源设置精度 | 0.5% ± 0.05V | 0.5% ± 0.05V |
| 11 | 电源采样精度 | 0.5% ± 0.05V | 0.5% ± 0.05V |
| 12 | 电流采样精度 | 0.5% ± 0.1A | 0.5% ± 0.1A |
| 13 | 电源远端采样控制 | 支持 | 支持 |
| 14 | 电源保护 | OCP,OVP | OCP,OVP |
| 15 | IO通道 | 184 | 184 |
| 16 | IO功能 | 全双向 | 全双向 |
| 17 | IO频率 | 10MHz | 10MHz |
| 18 | IO驱动电流 | 100mA | 100mA |
| 19 | IO VIH | 0.5-5V | 0.5-5V |
| 20 | IO VIL | 0V | 0V |
| 21 | 向量zone | 每块BIB 独立zone | 每块BIB 独立zone |
| 22 | 向量格式 | WGL，VEC，PAT等常规格式 | WGL，VEC，PAT等常规格式 |
| 23 | 向量深度 | 32M | 32M |
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