解决方案
为企业量身定制专项解决方案,助力实验室顺利运行
半导体行业

随着新时代的到来,家电已经不仅仅是一种家用电器,而是家庭智能化的载体,全屋智能时代已经临近。设想一下未来理想的家居生活场景:你通过冰箱控制全屋家电,当你在厨房做饭,此时门铃响起,我们通过冰箱就能看到门外面人的一举一动;衣服洗好了,冰箱也会自动提醒你……。这一切的实现都对家电的功能型、可靠性和安全性有了更高的要求,迈步智能装备能够为您提供全套的环境模拟和老化设备,让您尽享智能时代。


检测对象试验项目试验标准解决方案  (可点击对应产品查看详情)
功率半导体器件温度循环 TCJESD22-A104两箱冷热冲击试验箱
低温存储试验 LTSLJESD22-A11超低温试验箱
高温存储试验 HTSGB/T 4937-1995 第 Ⅲ 篇 2 GB/T 2424.19-2005 JESD22-A103C高温贮存箱
稳态湿热试验 STHJESD22-A101C 5稳态湿热试验箱
高温高湿偏压 H3TRBAEC -Q101 JESD22A-101H3TRB 高温高湿反偏老化测试系统
高温反偏 HTRBJESD22-A108HTRB 高温反偏老化测试系统
高温栅反偏试验 HTGBJESD22A-108 AEC-Q101HTGB 高温栅反偏老化测试系统
间歇工作寿命 IOLJESD22-A122IOL 间歇寿命老化测试系统
高压加速寿命试验 PCTJESD22-A11高压蒸煮寿命箱 PCT
高加速老化试验 HASTJESD22-A110HAST 高加速寿命偏压老化测试系统
不偏压高速老化 UHASTJESD22-A110UHAST 不偏压高速老化测试系统
盐雾腐蚀试验 SSTGBT2423.17-93
IGBT 模块 IPM 模块  SIC温度循环 TCJESD22-A104三箱冷热冲击试验箱
低温存储试验 LTSLJESD22-A11超低温试验箱
高温存储试验 HTSJESD22-A103C高温贮存箱
稳态湿热试验 STHJESD22-A101C 5稳态湿热试验箱
高温高湿偏压 H3TRBAEC-Q101  JESD22A-101H3TRB  高温高湿反偏老化测试系统
高温反偏 HTRBJESD22-A108HTRB 高温反偏老化测试系统
高温栅反偏试验 HTGBJESD22A-108  AEC-Q101HTGB  高温栅反偏老化测试系统
高压加速寿命试验 PCTJESD22-A11高压蒸煮寿命箱 PCT
高加速老化试验JESD22-A110HAST  高加速寿命偏压老化测试系统
分立器件温度循环 TCGB/T 4937-1995  第 Ⅲ 篇 1.1 GB/T 2423.22-2012 7 JESD22-A104D三箱冷热冲击试验箱
低温存储试验 LTSLJESD22-A11超低温试验箱
高温存储试验 HTSJESD22-A103C高温贮存箱
高温反偏 HTRBGB/T 15291-1994  6.2 JESD22-A108CHTRB 高温反偏老化测试系统
恒温恒湿 (H3TRB)GB/T 4937-1995  第 Ⅲ 篇 5 GB/T 2423.3-2006 JESD22-A101CH3TRB  高温高湿反偏老化测试系统
高加速耐湿及偏压 HASTGB/T  4937.4-2012 JESD22-A110DHAST  高加速寿命偏压老化测试系统
高压蒸煮 (PCT)JESD22-A102-C高压蒸煮寿命箱 PCT