功率循环老化测试系统主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及最高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。
产品型号 | KL-PCT-250A-2CH | KL-PCT-600A-2CH | KL-PCT-1000A-2CH | KL-PCT-2000A-2CH |
产品名称 | IGBT/SIC模块功率循环老化测试系统 | |||
散热平台 | 2个 | 2个 | 2个 | 2个 |
试验电源 | 20V/250A | 17V/600A | 10V/1000A | 10V/1000A |
加热电流 | 2路 250A | 2路 600A | 2路 1000A | 2路 2000A |
并联可达500A | 并联可达1200A | 并联可达2000A | 并联可达4000A | |
测试电流 | 2路 | 2路 | 2路 | 2路 |
ON/OFF | 2套 | 2套 | 2套 | 2套 |
VGE | 12套 | 8套 | 6套 | 4套 |
测试系统 | 12套 | 8套 | 6套 | 2套 |
测试工位 | 12个(串联6个) | 8个(串联4个) | 6个(串联3个) | 4个(串联2个) |
上位机 | 研华工控机、品牌液晶显示器+专用键盘及鼠标 | |||
基本功能 | ·试验参数(IH、Im、ton/toff、times)设置 ·参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj)上限设定 ·实时监测显示老化参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj、Times)及循环次数 ·绘制VCE变化曲线,并判断变化率 ·测试结壳热阻Rjc绘制变化曲线,并判断变化率 ·老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线 | |||
联网功能 | 可实现电脑端网络监控或者手机端APP监控。 | |||
电网要求 | 三相AC380V,15KW | 三相AC380V,25KW | 三相AC380V,35KW | 三相AC380V,50KW |
外形尺寸 | WXDXH:138x150x155(cm)(不含冷水机部分) | |||
重量 | 约450kg | |||
选配件 | K系数测试仪 | |||
结构函数测试系统 | ||||
水冷机(自制,流量、控温及上位机优化合理) |