PCT-3000模块老化测试系统

功率循环老化测试系统主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及最高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。

  • 产品特点
  • 符合标准
  • 适用范围
  • 支持分钟级/秒级功率循环测试。

  • 搭载油冷平台,可快速自动校准被测器件的K系数。

  • 夹具支持可调力度及深度,可对不同封装的模块进行有效的夹固。

  • 具备电磁水阀,可根据实际情况自动调整冷却水流,亦可手动调整。

  • 通过测试器件的瞬态温度响应曲线,对测试波形进行数据处理,得到该电子器件的全面热特性

技术参数

产品型号

KL-PCT-250A-2CH

KL-PCT-600A-2CH

KL-PCT-1000A-2CH

KL-PCT-2000A-2CH

产品名称

IGBT/SIC模块功率循环老化测试系统

散热平台

2个

2个

2个

2个

试验电源

20V/250A

17V/600A

10V/1000A

10V/1000A

加热电流

2路 250A

2路 600A

2路 1000A

2路 2000A


并联可达500A

并联可达1200A

并联可达2000A

并联可达4000A

测试电流

2路

2路

2路

2路

ON/OFF

2套

2套

2套

2套

VGE

12套

8套

6套

4套

测试系统

12套

8套

6套

2套

测试工位

12个(串联6个)

8个(串联4个)

6个(串联3个)

4个(串联2个)

上位机

研华工控机、品牌液晶显示器+专用键盘及鼠标

基本功能

·试验参数(IH、Im、ton/toff、times)设置

·参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj)上限设定

·实时监测显示老化参数(ICE/IF、VCE/VF、TJ、△Tj、Times)及循环次数

·绘制VCE变化曲线,并判断变化率

·测试结壳热阻Rjc绘制变化曲线,并判断变化率

·老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线

联网功能

可实现电脑端网络监控或者手机端APP监控。

电网要求

三相AC380V,15KW

三相AC380V,25KW

三相AC380V,35KW

三相AC380V,50KW

外形尺寸

WXDXH:138x150x155(cm)(不含冷水机部分)

重量

约450kg

选配件

K系数测试仪


结构函数测试系统


水冷机(自制,流量、控温及上位机优化合理)